2014年09月19日（金）
10:30～16:30
Tel：03-5857-4811 E-mail：info@rdsc.co.jp
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非会員：
50,906円
（本体価格：46,278円）
会員：
48,125円
（本体価格：43,750円）
学生：
11,000円
（本体価格：10,000円）
会員（案内）登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円（税込）から
★1名で申込の場合、47,250円（税込）へ割引になります。
★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円（2人目無料）です。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
化学、電気、自動車、精密機器、建材、医療、食品、化粧品などのあらゆる分野の製品で、異物や異常によるトラブルシューティングが発生しています。それに伴う顧客からのクレーム件数は増加する傾向にあります。このトラブルシューティングは社運を左右しかねない重大問題に発展する可能性もあり、早期解決は重要な課題となります。
その要因の特定手段として顕微ＩＲ測定他による異物分析が実施されています。ところが近年製造技術の進歩や製品の多様化により異物や異常が複雑かつ微小化し、分析手段も高度化を余儀なくされています。各製造・加工メーカにおいても品質管理部門の重要性は高まってきております。
本セミナーでは異物の前処理から顕微ＩＲ測定を中心とした多種の分析方法による異物分析事例を多数紹介いたします。これら業務に携わる方々に基礎的な知識や技術を収得して頂き、自社での異物問題解決への活用、さらにはより高度な異物分析デザインを構築する能力を身につけて頂ければ幸いであります。
１．異物とは？
１－１ 異物の定義
１－２ 異物分析の歴史
１－３ 異物の形態分類
１－４ 異物の発生原因（推定）
１－５ 異物の具体例
２．異物分析方法
２－１ 一般的な異物分析方法
２－２ 分析方法の選択
２－３ 異物分析に用いられる分析機器の特徴と使用ポイント
～ 顕微ＩＲ，イメージング，ｎａｎｏＩＲ，ＥＰＭＡ，
レーザーラマン，ＴＯＦ－ＳＩＭＳなどの利点と欠点 ～
３．異物のサンプリング法および前処理法の選択
３－１ 異物のサンプリングの実際
～ 光学顕微鏡，手作業，マニピュレーター ～
３－２ 異物の前処理法
～ 簡易断面作製，ミクロ抽出，ミクロろ過，熱圧ろ過など ～
４．異物分析事例
４－１ 顕微ＩＲ測定による分析事例
４－２ その他の分析機器による分析事例
５．スペクトル解析
（赤外スペクトルの解析を中心として）
５－１ 赤外スペクトルの解析
５－２ ＥＰＭＡスペクトルの解析
５－３ Ｐｙ－ＧＣＭＳスペクトル他の解析
５－４ ラマンスペクトルの解析
６．技術トピックス
６－１ 複数の機器・手法を用いて解析した分析事例
６－２ 失敗・困難な分析事例
７．実証と対策
７－１ 実証と対策
～ 問題解決のための分析手段と証明 ～
７－２ 異物分析デザイン
８．質疑応答
