FTIRの基礎から、サンプルの前処理、顕微IR法及び最新のIRイメージング法について実際の異物解析例を交えて紹介!

FTIRの基礎と異物分析
※都合によりセミナー会場を変更しました(2/10)。
商工情報センター → 瀧野川会館 4F 403集会室

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セミナー概要
略称
FTIR異物分析
セミナーNo.
150253
開催日時
2015年02月19日(木) 10:30~16:00
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
滝野川会館 4F 403集会室
価格
非会員:  50,906円 (本体価格:46,278円)
会員:  48,125円 (本体価格:43,750円)
学生:  11,000円 (本体価格:10,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
 ★1名で申込の場合、47,250円(税込)へ割引になります。
 ★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円(2人目無料)です。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
昼食、資料付
講座の内容
受講対象・レベル
・FTIRを用いて品質管理業務、異物解析業務に携わる技術者(初心者向け)
習得できる知識
・FTIRの基礎(IRスペクトルから何がわかるのか)
・FTIRの測定条件と各種測定法
・測定のコツとスペクトル解析のコツ
・顕微IR法/IRイメージング法
趣旨
 FTIRは迅速な分析手法として異物解析の最初のステップとして用いられることが多い。近年、装置やソフトウェアの改良により簡単にスペクトルを取得できるようになってきたが、基礎的な知識が不足していると装置性能を十分に発揮させることができなかったり、取得したスペクトルから情報を読み取れなかったりする場合もある。また、異物の微小化に伴い、顕微IRを用いた測定が必要な場合もある。本講座では、測定のために知っておきたいFTIRの基礎から、サンプルの前処理、顕微IR法及び最新のIRイメージング法について実際の異物解析例を交えて紹介する。
プログラム
1.FTIRの基礎
  FTIRの測定でどんな情報が得られるか?

2.FTIRの測定条件と各種測定法
  2-1.FTIRの測定条件
  2-2.各種測定法
    2-2-1.透過法
    2-2-2.反射法
    2-2-3.ATR法

3.FTIR測定のコツと解析のコツ
  3-1.透過測定のコツ
  3-2.ATR測定のコツ
  3-3.スペクトル検索
  3-4.主要な官能基
  3-5.異物としてよくみるスペクトル例

4.微小サンプルの測定
  4-1.顕微IR法とは
  4-2.顕微IR法のためのサンプル前処理と測定法の選択
  4-3.IRイメージング法の応用
 
キーワード
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