2015年02月19日(木)
10:30~16:00
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp
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非会員:
50,906円
(本体価格:46,278円)
会員:
48,125円
(本体価格:43,750円)
学生:
11,000円
(本体価格:10,000円)
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
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学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
・FTIRを用いて品質管理業務、異物解析業務に携わる技術者(初心者向け)
・FTIRの基礎(IRスペクトルから何がわかるのか)
・FTIRの測定条件と各種測定法
・測定のコツとスペクトル解析のコツ
・顕微IR法/IRイメージング法
FTIRは迅速な分析手法として異物解析の最初のステップとして用いられることが多い。近年、装置やソフトウェアの改良により簡単にスペクトルを取得できるようになってきたが、基礎的な知識が不足していると装置性能を十分に発揮させることができなかったり、取得したスペクトルから情報を読み取れなかったりする場合もある。また、異物の微小化に伴い、顕微IRを用いた測定が必要な場合もある。本講座では、測定のために知っておきたいFTIRの基礎から、サンプルの前処理、顕微IR法及び最新のIRイメージング法について実際の異物解析例を交えて紹介する。
1.FTIRの基礎
FTIRの測定でどんな情報が得られるか?
2.FTIRの測定条件と各種測定法
2-1.FTIRの測定条件
2-2.各種測定法
2-2-1.透過法
2-2-2.反射法
2-2-3.ATR法
3.FTIR測定のコツと解析のコツ
3-1.透過測定のコツ
3-2.ATR測定のコツ
3-3.スペクトル検索
3-4.主要な官能基
3-5.異物としてよくみるスペクトル例
4.微小サンプルの測定
4-1.顕微IR法とは
4-2.顕微IR法のためのサンプル前処理と測定法の選択
4-3.IRイメージング法の応用