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工業材料における汚染/異物/不具合発生原因と事例を交えた分析方法

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セミナー概要
略称
汚染異物分析
セミナーNo.
151036
開催日時
2015年10月20日(火) 12:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
価格
非会員:  50,906円 (本体価格:46,278円)
会員:  48,125円 (本体価格:43,750円)
学生:  11,000円 (本体価格:10,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
 ★1名様申込の場合、47,250円(税込)へ割引になります。
 ★2名様同時申込の場合、2人目無料(2名で49,980円)になります。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
定員
30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
備考
資料付き
講座の内容
受講対象・レベル
・研究開発
・技術開発
・生産技術
・製造技術
・品質管理
・品質保証
習得できる知識
・分析手法とその原理
・不具合発生原因
・材料知識
趣旨
異物、汚染の状態および分析対象物の材料構成により、適切な分析手法を選択する必要があります。また、前処理、サンプリングの精度が取得したデータ解析の効率を左右するため、その工程の重要性についても解説いたします。不具合解決のためのカギとなるのが、前処理、データ解析力、そして材料知見でありその重要性について説明いたします。
プログラム
1.異物・汚染の発生原因
2.材料について

  2-1 物質の種類
  2-2 結合の種類
  2-3 分子間力について
3.分析解析の流れ
  3-1 前処理
   ・異物サンプリング技術
   ・汚染物化学処理技術
   ・ 分析サンプル加工処理技術
  3-2 分析装置・手法の選択
   ・装置種類
   ・装置対応内容
   ・装置原理
  3-3 データ解釈・考察
   ・専門知識の重要性
   ・データの読み取り方
4. 表面分析、定性分析
  4-1 分析手法の位置付け
   ・分析化学で使用される代表的な装置
   ・対象物ごとの分析手法・装置の選択
  4-2 装置原理と具体的事例
   ・FT-IR分析
   ・TOF-SIMS分析
   ・NMR分析
   ・クロマトグラフィー分析(GC, LC, IC)
   ・オージェ分析
   ・XPS分析(ESCA)
   ・EDX、WDX
5.観察による分析解析
  5-1 SEM観察
    ・表面観察
    ・ 断面加工からの観察
  5-2 SAT観察(超音波顕微鏡)
   ・非破壊観察
   ・空気層、剥離観察
6.化学処理、化学分析手法による表面観察
  6-1 ポリマー結晶観察
  6-2 ポリマー海島観察(マッピングによる視覚化)
7.材料劣化のメカニズム
  7-1 信頼性試験、評価
  7-2 金属劣化
  7-3 ポリマー劣化
  7-4 劣化反応機構
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