2016年02月29日（月）
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学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
・赤外、ラマン分光法の基礎知識
・基礎知識の異物分析への展開
・サンプリング法の実際
最近、食品中の異物が話題になっているが、異物は医薬品、塗膜、プラスチック成品、半導体、電子基板などでも異物がみられることがある。
異物発生防止の対策を行うには、まず異物の構造を知ることが必要であり、それが混入経路の推定、混入防止に役立つ情報源となる。異物分析は微小物の分析に限ったわけではないが、最近の異物は微小化の傾向にあり、ほとんどが顕微分析で行われる。言い換えれば、現在の異物分析はサンプリング技術と微小・微量分析の統合技術であるともいえる。
異物の構造同定には頻繁にFT-IR、ラマン分光法が使用されることが多い。より良いスペクトル測定には、両分光法の特徴、測定法を把握すると同時に、試料サンプリング技術が重要な要素となる。最近、いろいろなサンプリングツールが利用できるようになってきたので、それらをいかに利用するかを実際に見ていただくことでサンプリング技術への理解を深めていただきたい。
１．異物の形態観測
1.1 形態観察とサンプリング方法
1.2 どんな測定法を適用するか
２．FT-IR分光法の基礎
2.1 測定法のいろいろ
2.2 測定法の違いとスペクトル
３．ラマン分光の基礎
3.1 測定法のいろいろ
3.2 蛍光対策
3.3 注意事項
４．サンプリングツール
4.1 サンプリングツールのいろいろ
4.2 サンプリングツールの使い方実演
５．目的とサンプル形状に適合した異物測定法の選択
６．スペクトル分析
6.1 FT-IR、ラマン分析事例の紹介
6.2 スペクトルデータベースの重要性
6.3 スペクトル解析支援ソフト
【質疑応答・名刺交換】
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