貴女貴方の分析現場の常識、それ正しいの?美しいデータに隠された落とし穴!

多様な微小部・表面・界面の分析技術と正しいデータ解釈
~真実を見抜く力の養成講座~

※受付を終了しました。最新のセミナーはこちら

セミナー概要
略称
表面界面分析
セミナーNo.
160347
開催日時
2016年03月15日(火) 10:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
価格
非会員:  50,906円 (本体価格:46,278円)
会員:  48,125円 (本体価格:43,750円)
学生:  11,000円 (本体価格:10,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
 ★1名様申込の場合、47,250円(税込)へ割引になります。
 ★2名様同時申込の場合、2人目無料(2名で49,980円)になります。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
昼食・資料付き
講座の内容
受講対象・レベル
各種の微小部・表面・界面分析に携わり、ある程度の経験のある方
習得できる知識
・電子・イオン・X線の性質を正しく理解して、多様な分析法を理解する
・極微小部・極薄層の真実・非真実を見抜く力
趣旨
多様な高品質材料・機能素子・部品の開発・品質管理には、様々な顕微鏡・マイクロアナライザー・表面分析装置・界面分析装置が用いられており、現在150種あるいはそれ以上の手法が知られています。どれが目的にかなっているかの判断は簡単ではなく、羅列的に覚えてもあまり役には立ちません。多くの手法に用いられている荷電粒子や電磁波の性質・振舞いを十分に理解し、信号検出の仕組みやデータの成り立ちから理解する力が有用です。他方、ナノ~ミクロンの情報には様々な要因が混在し、真実・非真実を見抜く力、美しいデータに潜む落とし穴を見抜く力は大変重要です。
プログラム
1.表面・微小部・界面分析で何を知りたいか何が分かるのか?
2.表面・微小部・界面の分析法

  2-1 電子の性質と試料との相互作用・振舞い
  2-2 イオンの性質と試料との相互作用・振舞い
  2-3 X線の性質と試料との相互作用・振舞い 
3.特に汎用性のある分析法の特徴
  3-1 SEM-EDX、EPMA、AES、SIMS、XPSの特徴
  3-2 様々な分析法の特徴と比較
  3-3 分析法比較の注意
4.試料前処理の注意
  4-1 分析対象の維持と試料保管中・試料作成中の汚染対策
  4-2 真空と表面
5.スペクトルの意味するもの
  5-1 電子スペクトルの特徴と注意
  5-2 イオンスペクトルの特徴と注意
  5-3 X線スペクトルの特徴と注意
6.空間分解能 
  6-1 空間分解能とは? その重要性
  6-2 空間分解能は何によって決まり、どのように分析データに反映するか
  6-3 走査像の分解能、擬似分解能
  6-4 空間分解能の落とし穴
7.先端分析技術 特にナノ分析について
  7-1 電子・イオン・X線によるナノ分析の可能性
  7-2 X線による最先端解析の紹介
   ・X線を曲げる絞る、X線のナノ観測
キーワード
深さ,高分子,スペクトル,研修,講習会
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