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ナノ触診原子間力顕微鏡(AFM)による高分子材料の解析技術
AFMで力学物性解析を行いたい方、高分子ナノアロイ、ナノコンポジットの研究・開発のためにAFMを利用したい方はぜひご参加下さい!
ナノ触診原子間力顕微鏡(AFM)による高分子材料の解析技術
※受付を終了しました。最新のセミナーは
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セミナー概要
略称
AFM
セミナーNo.
180677
開催日時
2018年06月20日(水) 12:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp
問い合わせフォーム
開催場所
商工情報センター(カメリアプラザ)
9F 会議室
価格
非会員: 50,906円 (本体価格:46,278円)
会員: 48,125円 (本体価格:43,750円)
学生: 11,000円 (本体価格:10,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
★1名で申込の場合、47,250円(税込)へ割引になります。
★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円(2人目無料)です。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
■ 会員登録とは? ⇒
よくある質問
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
資料付
講座の内容
受講対象・レベル
・原子間力顕微鏡で力学物性解析を行いたい方
・高分子ナノアロイ、ナノコンポジットなどの力学物性に興味のある方
習得できる知識
・原子間力顕微鏡(AFM)の基礎知識
・AFMを用いた物性計測手法
・高分子ナノアロイ、ナノコンポジット
趣旨
原子間力顕微鏡(AFM)はいまや材料研究にとってかかせないツールです。高分解能性にその理由がありますが、さらにその原理上、画像取得の際に表面と接触して力を及ぼしあうという特徴をもつため、医師が指で触診するのと同じようにAFM探針で試料表面のさまざまな力学物性測定を行うことができます。これがナノ触診AFMです。本セミナーでは、AFMの原理から始め、ナノ触診AFMの基礎と応用について解説します。さらに動的特性として、損失正接画像や粘度像などが取得できる粘弾性解析の新展開についても時間を割く予定です。AFMで力学物性解析を行いたい方もしくは高分子ナノアロイ、ナノコンポジットを研究・開発の対象としていてAFMに興味をお持ちの方の参加をお待ちしております。
プログラム
1 原子間力顕微鏡(AFM)の基礎
1.1 AFMの原理
1.2 フォースカーブ
1.3 タッピングモードAFMの原理
1.4 位相像とエネルギー散逸
2 ナノ触診AFMの基礎
2.1 接触理論概観
2.2 弾性率像を取得するための手順
2.3 国際標準化動向
3 ナノ触診AFMの応用
3.1 ゴムへの応用
3.2 高分子ナノアロイ、ナノコンポジットへの応用
3.3 ブロックコポリマー、TPEへの応用
3.4 その他(国家プロジェクト進捗情報など)
キーワード
ナノ触診、原子間力顕微鏡、AFM、高分子、分析、ゴム、アロイ、ポリマー
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