ホーム > セミナー > FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック・コツ

~現場実務で役立つ・使える~

セミナー概要

略称
FT-IR
セミナーNo.
191108  
開催日時
2019年11月20日(水)10:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
江東区産業会館 第1会議室
講師
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
  大阪市産業創造館 技術・経営相談員
  市立教育研究所 運営委員
  滋賀県 社会教育委員
  知財管理技能士

【専 門】
表面・界面、接着、高分子、ナノ粒子、分析、ハイブリッド材料、等
価格
非会員: 55,000円(税込)
会員: 49,500円(税込)
学生: 11,000円(税込)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で55,000円(税込)から
 ★1名で申込の場合、49,500円(税込)へ割引になります。
 ★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計55,000円(2人目無料)です。
■ 会員登録とは? ⇒ よくある質問
■ 学生価格は、教職員や研究員、企業に在籍されている学生には適用されません。
 また、当日学生証をご持参ください。

※2019年10月1日以降に開催されるセミナーの受講料は、お申込みいただく時期に関わらず消費税が10%になります。
特典
【セミナー受講特典コンサルティング】
セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。

<依頼条件>
 ・初回1回のみ
 ・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・コンサルティング実施時間:4時間程度まで
 ・費用:場所、内容によらず定額の限定受講特典
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
昼食・資料付き

講座の内容

受講対象・レベル
・企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー、等
・研究開発部門、研究機関の担当者、リーダー等
・その他、技術部門全般
習得できる知識
・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順
趣旨
赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。
プログラム
1.赤外分光法の基本原理と特徴
  1.1 赤外分光が見ているもの
  1.2 分光分析における吸収の定義
  1.3 吸収スペクトルと吸光度スペクトル
  1.4 赤外分光の波長領域
  1.5 振動モード
  1.6 気体と液体・固体
  1.7 赤外分光法発展の歴史
  1.8 赤外分光法の長所・短所
  1.9 主な検出器と特徴
2.代表的な測定法
  2.1 透過法
  2.2 全反射法(ATR)
   2.2.1 ATR法のバリエーション
   2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
   2.2.3 FTIR-ATRにおける測定深さ
   2.2.4 ATR法における注意点
   2.2.5 ATR補正
   2.2.6 異常分散によるスペクトルへの影響
   2.2.7 様々なATRアタッチメント
   2.2.8 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
  2.3 反射法
  2.4 拡散反射法
  2.5 光音響分光法(PAS)
  2.6 ガスセル
  2.7 主な測定法のまとめ
  2.8 顕微赤外
  2.9 ラマン分光法との対比
3.赤外スペクトル
  3.1 赤外スペクトルの概要
  3.2 主な吸収帯
  3.3 指紋領域の利用
  3.4 カルボニル基の判別
  3.5 スペクトルサーチ
  3.6 スペクトルデータベース
  3.7 代表的検索アルゴリズム
  3.8 検索アルゴリズムの限界
  3.9 ヒットスコアの罠
  3.10 検索結果の間違い例
  3.11 スペクトルサーチのコツ
  3.12 差スペクトル
  3.13 混合解析
  3.14 オープンライブラリ
  3.15 系統分析
  3.16 帰属の考え方
4.定量分析
  4.1 検量線法
  4.2 ピーク強度比法
  4.3 内標準法
  4.4 誤差要因
5.大気成分補正
6.測定条件と誤差要因
7.スペクトル処理

  7.1 ベースライン補正
  7.2 スムージング・補間
  7.3 ベースライン(ピーク強度)
  7.4 ピーク高さと面積
  7.5 自動処理の注意点
8.混合物の解析
9.様々な試料

  9.1 バルク
  9.2 フィルム
  9.3 紛体
  9.4 液体
  9.5 異物・微小部
  9.6 繊維
  9.7 汚染・付着物
  9.8 黒色試料
10.高次構造
11.結晶解析
12.融解
13.配向
14.水素結合
15.バルク(全体平均)分析
16.表面分析
17.深さ方向分析

  17.1 断面の利用
  17.2 精密斜め切削法
  17.3 傾斜面の例
  17.4 研磨法
  17.5 角度変化法
18.温度変化測定
19.FTIRにおける注意点

  19.1 ATRにおける異常分散
  19.2 ATRにおける試料変形の影響
  19.3 ATRにおける試料の置き方の影響
  19.4 ATRにおける押し圧の影響
  19.5 KBrと試料との反応
  19.6 KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
  19.7 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
  19.8 プレスホルダーによる干渉縞抑制
20.事例
  20.1 フィルム上汚染
  20.2 UV表面処理による構造変化の深さ方向解析
  20.3 UV照射によるオレフィンの構造変化
  20.4 UV照射による添加剤入りPVCの構造変化
  20.5 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
  20.6 Pi/Cu/Si界面の解析
  20.7 時間分解測定
21.仮説思考による研究開発と問題解決
22.質疑
キーワード
スペクトラムアナライザ,界面分析,表面分析,赤外分光法,講習会,研修

関連するセミナー

関連する書籍・DVD

関連するタグ