非会員：
55,000円
（本体価格：50,000円）
会員：
49,500円
（本体価格：45,000円）
学生：
55,000円
（本体価格：50,000円）
結晶性高分子材料の物性は、結晶が織りなすナノからミクロンスケールの階層的な構造により大きく左右される。こうした結晶構造のコントロールは、より優れた物性の発現や、更なる高機能化を図る為に必須である。従って、様々なスケールで結晶の構造を解析すると共に、そうした構造が形成される機構を正しく理解する必要がある。
高分子は長い紐状である事に起因して、特異な結晶化挙動を示す。本講座では先ず、低分子や金属と対比しながら、高分子結晶の構造と結晶化プロセスの特徴について解説する。さらに、物性との関わりが深い項目として、分子構造の規則性、温度条件、配向条件などを取り上げ、最終的にどのような構造形成につながるか、実例を交えながら紹介する。
引き続き、高分子結晶の階層的な構造を解析する手法として、顕微鏡法、および、回折・散乱による解析法について解説する。目的に応じて適切に使い分る事を念頭に、簡易かつ迅速な光学顕微鏡法から最新の放射光を用いた手法まで、幅広く紹介する。
講演の最後には高分子の結晶化メカニズムの解析の方法、新規解析技術についての質問を受け付ける。
１．高分子の結晶の基礎
1-1．「結晶」とは何か
1-1-1．「結晶」の定義
1-1-2．結晶はなぜ生成するか
1-2．高分子結晶の構造的特徴
1-2-1．低分子結晶との対比
1-2-2．線状高分子の凝集構造
1-2-3．高分子結晶特有の高次構造（ラメラ晶、球晶、繊維構造）
1-3．高分子結晶の生成
1-3-1．結晶核の形成
1-3-2．二次核生成→生長
1-3-3．結晶化速度
1-3-4．結晶化温度と融点
1-4．物性との関わりと評価法
1-4-1．結晶化度
1-4-2．融点
1-4-3．分子構造の規則性（融点への影響、結晶成長への影響）
1-4-4．配向
1-5．高分子結晶化の特性を活用した加工技術の例
1-5-1．ゲル紡糸
1-5-2．ナノ配向結晶体（NOC）
２．構造解析法１－顕微鏡法
2-1．「見える」ための必要条件
2-1-1．分解能（波長による限界、結像による限界、試料による限界）
2-1-2．コントラスト（明暗、色）
2-2．光学顕微鏡
2-2-1．照明法について（透過、落射）
2-2-2．対物レンズ
2-2-3．偏光顕微鏡
2-2-4．微分干渉顕微鏡
2-3．電子顕微鏡
2-3-1．走査型電子顕微鏡
2-3-2．透過型電子顕微鏡（明視野像観察、電子回折、暗視野観察、三次元像）
2-3-3．高分解能観察（電子線損傷と解像限界、画像処理）
2-4．原子間力顕微鏡
2-4-1．AFMの原理
2-4-2．測定上の留意点（試料作成、フィードバックパラメータ）
３．構造解析法２－回折・散乱による方法
3-1．回折・散乱の基礎
3-1-1．ブラッグ回折
3-1-2．フーリエ変換
3-1-3．逆空間
3-2．結晶の回折
3-2-1．逆格子（回折反射の指数、エヴァルト球、限界球）
3-2-2．乱れた結晶からの回折（回折点の広がりの解釈）
3-2-3．多結晶体の回折（粉末図形、繊維図形）
3-2-4．微結晶サイズの評価（シェラーの式）
3-2-5．様々な観察法
3-2-6．電子回折
3-3．小角散乱
3-3-1．積層ラメラの回折
3-3-2．インバリアント
3-4．放射光を用いた解析の実例
3-4-1．高速時分割測定
3-4-2．マッピング
４．高分子結晶、測定法についての議論
