薄膜シリコントランジスタ、酸化物薄膜トランジスタの基礎知識から高性能化・高信頼性に向けた技術を解説!
1.はじめに
2.薄膜技術の基礎
2.1 薄膜形成の物理
2.2 薄膜形成技術
2.3 薄膜の特長
2.4 薄膜の評価技術
2.5 薄膜の最新動向
3.薄膜トランジスタの動作原理
4.低温多結晶薄膜(LTPS)トランジスタ
4.1 薄膜シリコンの結晶化技術
4.2 薄膜トランジスタの歴史
4.3 デバイス構造
4.4 プロセス技術
4.5 信頼性評価技術
4.6 回路応用技術
4.7.LTPS技術の最新動向
5.酸化物薄膜トランジスタ
5.1 薄膜トランジスタの歴史
5.2 酸化物薄膜の物理
5.3 デバイス構造
5.4 プロセス技術
5.5 信頼性評価技術
5.6 回路応用技術
5.7.酸化物薄膜技術の最新動向
6.まとめと今後の課題
□ 質疑応答 □