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原理だけでなく実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説!

FT-IRの基礎と測定ノウハウ

通信講座概要

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略称
FT-IR
通信講座No.
ce171202
開催日
2017年12月19日(火)
講師
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
  大阪市産業創造館 技術・経営相談員
  市立教育研究所 運営委員
  滋賀県 社会教育委員
  知財管理技能士

【専 門】
表面・界面、接着、高分子、ナノ粒子、分析、ハイブリッド材料、等
価格
1名で受講した場合: 49,980円(税込)
2名で受講した場合: 49,980円(税込)
3名で受講した場合: 64,800円(税込)
※4名以上で受講される場合はお問い合わせ下さい。
価格関連備考
1口2名まで49,980円(税込)
※同一法人より3名以上受講の場合、1名につき21,600円(税込)でご受講いただけます。  
スケジュール
※請求書はお申し込みを受理次第、発送させていただきます。

12月19日(火) 第1講 テキスト配本
1月22日(月) 第1講 演習問題回答締切(必着)  第2講テキスト配本
2月23日(金) 第2講 演習問題回答締切(必着)  第3講テキスト配本
3月23日(金) 第3講 演習問題回答締切(必着)
4月16日(月) 修了書送付  
趣旨
赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。また、最近では、ケモメトリクス、2次元相関解析等の数学的解析手法や統計的解析手法などの適用も検討されており、その応用範囲はさらに広がりを見せている。
 近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となってきている。これによって、さらに利用範囲は広がっており、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立しているといっても過言ではない。そして、装置の性能・ソフトのインターフェースが向上していることから、満足なスペクトルを得るだけでも大変な労力が必要というような状況ではなくなり、導入したその日の内に必要十分なスペクトルを容易に得られるような状況となってきている。
 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。特に赤外分光法の場合、測定方法だけでも数多くの選択肢があることから、それらの適切な選択だけでも困難な壁となり得る。
 本講座では、このような背景をふまえ、赤外分光法(FT-IR)について、装置やアタッチメントを含む原理、実際の分析操作やスペクトルの解釈、そして、事例などについて、原理だけでなく実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。講座は、3講に分けて解説し、各講では解説内容に沿って実際の分析を想定した演習を行う。
また、より実務にそった自由参加演習問題も用意しております。
 
プログラム

第1講赤外分光法の基礎と装置・アタッチメント


1.赤外分光法の基本原理
2.赤外分光法発展の歴史
3.赤外分光法の特徴
4.検出器
  4.1 TGS、DTGSの特徴
  4.2 MCTの特徴
5.代表的な測定法
  5.1 透過法
  5.2 全反射法(ATR法)
  5.3 拡散反射法
  5.4 正反射法
  5.5 光音響分光法
  5.6 ガスセル
  5.7 測定方法のまとめ
6.顕微赤外分光法
  6.1 顕微ATR法
  6.2 顕微イメージング、マッピング
7.ラマン分光法との違い
8.ATR結晶等の取扱いや毒劇物対応

【演習問題】

第2講 赤外測定とスペクトル


1.赤外スペクトルの概要
2.主な吸収帯
  2.1 赤外活性な主な振動モード
  2.2 主な振動モードの波数分布
3.代表的な官能基の帰属
4.赤外スペクトルの見方、同定解析
  4.1 赤外スペクトルの構造敏感性と複雑性
  4.2 赤外スペクトルにおける指紋領域の利用
  4.3 カルボニル基の判別
5.特徴的な吸収帯を用いた系統同定
6.同定のためのピークの帰属のポイントと注意点
7.定量分析と検量線の使い方
8.内標準法による試料間比較
9.ATR測定で試料間比較(ピーク強度比法)
10.大気成分補正
11.スペクトルの処理
  11.1 ベースライン補正
  11.2 スムージング
12.ベースライン
13.ピーク高さとピーク面積
14.混合物の解析
  14.1 ピーク分離
  14.2 差スペクトル法
  14.3 他手法との組み合わせ

【演習問題】

第3講 測定の実際と事例


1.各種試料の測定
  1.1 フィルム
  1.2 粉体
  1.3 バルク
  1.4 液体
  1.5 異物・微小物
  1.6 繊維
  1.7 汚染・表面付着物
  1.8 黒色試料
  1.9 結晶構造等の高次構造変化
   1.9.1 融解
   1.9.2 配向
   1.9.3 その他
2.様々な分析
  2.1 バルク分析(試料全体の情報を得る)
  2.2 表面分析
  2.3 深さ方向分析
   2.3.1 断面
   2.3.2 斜め切削法
   2.3.3 研磨法
   2.3.4 角度可変ATR測定
  2.4 温度可変測定
3.測定における注意点と対策
  3.1 ATRにおける異常分散
  3.2 ATRにおける試料変形の影響1
  3.3 ATRのおける試料変形の影響2
  3.4 KBr錠剤法における試料変質
  3.5 KBr錠剤法における粒度の影響
4.事例
5.フィルム上汚染(シリコーン)
6.樹脂劣化の深さ方向分析
7.ポリイミドの表面改質

【演習問題】  
キーワード
赤外分光法,異物,分析,ATR,試料,研修,通信教育  
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