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── 半導体技術の進化・複雑化によりその重要性を増すテストを学ぶ ──

半導体テスト技術の基礎と動向【WEBセミナー】
品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり　etc.
生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ

Live配信(アーカイブ配信付)

セミナー概要
略称
半導体テスト【WEBセミナー】
セミナーNo.
st250702
開催日時
2025年07月09日（水） 10:30～16:30
主催
サイエンス＆テクノロジー（株）
問い合わせ
Tel：03-5857-4811　E-mail：info@rdsc.co.jp　問い合わせフォーム
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。　
講師
(株)EVALUTO　講師・技術コンサルタント　工学博士　畠山 一実　氏
【専門】テスト設計技術，高信頼化技術
1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降，(株)日立製作所，(株)ルネサステクノロジ，(株)半導体理工学研究センター及び奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事。その後，群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに，日本大学等にて非常勤講師を担当。
価格
非会員： 44,000円（税込）
会員： 42,020円（税込）
学生： 44,000円（税込）
価格関連備考
定　価　：1名につき 44,000円（税込）
会員価格：1名につき 42,020円　2名の場合 55,000円、3名の場合 82,500円（税込）

※上記会員価格は受講者全員の会員登録が必須となります。
※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※他の割引は併用できません。
※請求書は主催会社より代表者のメールアドレスにご連絡いたします。
特典
アーカイブ(見逃し)配信について
視聴期間：7月10日(火)PM～7月16日(水)
※アーカイブは原則として編集は行いません
※視聴準備が整い次第、担当から視聴開始のメールご連絡をいたします。
備考
PDFテキスト(印刷可・編集不可)
※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。

【ライブ配信（Zoom使用）セミナー】
・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
　PCやスマホ・タブレッドなどからご視聴・学習することができます。
・お申し込み後、接続確認用URL（https://zoom.us/test）にアクセスして接続できるか等ご確認下さい。
・後日、別途視聴用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
・セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
講座の内容
受講対象・レベル
・半導体の設計や製造に関わる方
・電子機器の開発に関わる方
※とくに予備知識は必要ありませんが、論理回路の基礎知識があればより理解が深まります。
習得できる知識
・半導体テストに関する基礎知識
・論理回路テストに関する一般知識
・テスト技術の動向に関する知識
趣旨
　ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。
　そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
プログラム

１．半導体のテストについて
　・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
　・テストの種類とテスト装置
　・テストコストについて
　・テスト品質について

２．テスト設計技術
　2.1 テスト生成技術
　　　・故障モデル
　　　・故障シミュレーション
　　　・テスト生成アルゴリズム
　2.2 テスト容易化設計技術
　　　・スキャン設計
　　　・組込み自己テスト

３．最新テスト技術動向
　3.1 高品質テスト技術
　　　・故障モデルの高度化
　　　・アナログテストの高品質化
　3.2 テストへのAI応用
　　　・AI応用による品質向上
　　　・AI応用によるコスト削減
　　　・AI応用による歩留り向上
　3.3 テストとセキュリティ
　　　・回路の難読化
　　　・偽造ICへの対策

４．まとめ

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