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サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器（顕微FT-IR、SEM-EDX）について原理・分析／解析のテクニックを事例を交えて解説！

異物分析の基礎と測定・解析の事例【大阪開催】

※受付を終了しました。最新のセミナーはこちら

セミナー概要
略称
異物分析【大阪開催】
セミナーNo.
191021
開催日時
2019年10月11日（金） 12:30～16:30
主催
（株）Ｒ＆Ｄ支援センター
問い合わせ
Tel：03-5857-4811　E-mail：info@rdsc.co.jp　問い合わせフォーム
開催場所
滋慶医療科学大学院大学　11F　講義室3
価格
非会員：  49,500円 （本体価格：45,000円）
会員：  46,200円 （本体価格：42,000円）
学生：  11,000円 （本体価格：10,000円）
価格関連備考
会員（案内）登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円（税込）から
　★1名で申込の場合、46,200円（税込）へ割引になります。
　★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円（2人目無料）です。
■ 会員登録とは？　⇒　よくある質問
■ 学生価格は、教職員や研究員、企業に在籍されている学生には適用されません。
また、当日学生証をご持参ください。

※2019年10月1日以降に開催されるセミナーの受講料は、お申込みいただく時期に関わらず消費税が10％になります。
定員
30名　※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
資料付
講座の内容
習得できる知識
・異物のサンプリング
・異物分析に役立つ分析機器
・顕微FT-IRの原理、分析／解析のテクニック
・SEM-EDX（EDS）の原理、分析／解析のテクニック
・異物の構成物質の推定手法
　
趣旨
　「製品中に異物が混入する」という事態は、大きなクレームに発展する。いち早く異物の構成物質を推定すれば、異物の発生場所の特定・対策が素早く実施でき、被害を小さく食い止めることができる。本講では、異物がどのような物質で構成されているかを明らかにするための基礎的知識の習得、およびその応用例となる事例紹介を行う。基礎知識については、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器（顕微FT-IR、SEM-EDX）について原理・分析／解析のテクニックを、注意点等を交えて学んでいただく。測定・解析の事例では、いくつかの例から「異物の構成物質の推定手法」を紹介する。
　
プログラム
１．異物分析とは？
　　1-1．異物分析の目的
　　1-2．異物分析の流れ

２．サンプリング
　　2-1．実体顕微鏡による方法
　　2-2．マイクロマニピュレータによる方法
　　2-3．ミクロトームによる方法

３．分析、解析
　　3-1．顕微FT-IR（フーリエ変換型赤外分光光度計）
　　　　　・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
　　3-2．SEM-EDX（走査電子顕微鏡-エネルギー分散型Ｘ線分析）
　　　　　・原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
　　3-3．その他の役立つ分析機器

４．異物の構成物質の推定から異物対策へ
　　4-1．分析／解析結果の統合 → 異物の構成物質の推定
　　4-2．製造現場や保全部門との連携 → 異物発生場所の特定
　　4-3．異物対策へ

５．事例紹介
　　・おもに顕微FT-IRおよびSEM-EDXを活用した「異物の構成物質の推定」の事例を、4～5例紹介の予定
キーワード
異物、分析、解析、サンプリング、FT-IR、赤外分光法、SEM、EDX、スペクトル
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