実務経験に基づいて、本質に迫るための試料作製と表面分析の勘所を解説!

表面分析を活用した電子部品の不具合観察・解析と不良対策【LIVE配信】
※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。

セミナー修了後、受講者のみご覧いただける期間限定のアーカイブ配信を予定しております。

※受付を終了しました。最新のセミナーはこちら

セミナー概要
略称
電子部品不良解析【WEBセミナー】
セミナーNo.
210707
開催日時
2021年07月09日(金) 13:00~17:00
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
価格
非会員:  49,500円 (本体価格:45,000円)
会員:  46,200円 (本体価格:42,000円)
学生:  49,500円 (本体価格:45,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円(税込)から
 ・1名で申込の場合、46,200円(税込)へ割引になります。
 ・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円(2人目無料)です。
会員登録とは? ⇒ よくある質問
定員
30名 ※現在、いずれもお申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
資料付き【PDF配布】

【Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順】
1)Zoomを使用されたことがない方は、こちらからミーティング用Zoomクライアントを
  ダウンロードしてください。ダウンロードできない方はブラウザ版でも受講可能です。
2)セミナー前日までに必ず動作確認をお願いします。Zoom WEBセミナーのはじめかたに
  ついてはこちらをご覧ください。
3)開催日直前にWEBセミナーへの招待メールをお送りいたします。当日のセミナー開始
  10分前までに招待メールに記載されている視聴用URLよりWEB配信セミナーにご参加
  ください。

・セミナー資料は開催前日までにお送りいたします。
 無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
講座の内容
受講対象・レベル
・新製品開発や不良対策に関わっている技術者・開発者
・不具合解析や分析試料作製の実際ついて、理解を深めたい方
趣旨
 電子部品の不具合箇所の解析において、比較的身近なSEM/EDS/EPMAの原理・特徴、得手不得手を明らかにしながら、観察・分析で得られる情報量の最大化・高度化のためのポイント、および分析試料作製のポイントを説明いたします。
プログラム

1.SEMを使いこなし方
  1-1 破断面だけの観察では情報が限られる
  1-2 上(一方向)からだけの観察では本来見えるものも逃してしまう
  1-3 加速電圧で見え方が全然違う
  1-4 スケールの信頼性を確かめ方
2.EDS(EDX)を活用する
  1-1 分析方法の得手不得手<EDSとWDS>
  (主元素が目立って、微量成分は見えにくい)
  1-2 得られているX線情報は表面のピンポイントからではない
  1-3 定量性・マッピングの精度を上げる方法
3.EPMA(WDS/WDX)元素分析で補完
  3-1 微量成分の高感度検出と定量性向上(EDSの欠点を補う)
  3-2 線分析の活用<界面・境界の情報を得る>
4.分析箇所の特定と試料の鏡面研磨
  4-1 観察/分析箇所(断面研磨箇所)の決定方法 
  4-2 分析・解析すべき試料の準備
  4-3 樹脂に埋め込んで鏡面研磨
  4-4 具体的研磨手順・方法
5.SEM・EDSに基づく不良対策
6.様々な解析手段活用で総合的判断

  6-1 マイクロフォーカスX線透視像
  6-2 超音波探傷/超音波イメージング
  6-3 その他
7.解析結果からの特許出願

キーワード
半導体,故障,解析,回路,分析,オンライン,WEBセミナー
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