トラブル相談・技術開発相談にも応じます!
※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
セミナー修了後、受講者のみご覧いただける期間限定のアーカイブ配信を予定しております。
1.各種半導体デバイスの基礎
(CPU、LSIメモリ、パワー半導体、液晶素子、
イメージセンサ、発光素子、太陽電池)
2.基本テデバイス構造(pn接合、バイポーラ、CMOS、TFT)
3.回路設計CAD/デバイス構造/プロセス技術の最適化(シフト量、平坦化、3次元化)
4.半導体基板(単結晶、多結晶、薄膜)
5.前処理(クリーンネス、RCA洗浄(SC1、SC2)、DLVO理論)
6.酸化(Deal-Grove理論、酸化種、Fick拡散則、拡散係数)
7.不純物導入(拡散法、イオン注入法、飛程、LSS理論、アニーリング)
8.薄膜形成①(ウェット:メッキ技術、シーズ層、気泡対策)
9.薄膜形成②(ドライ:核生成理論、蒸着、スパッタ、LP-CVD)
10.リソグラフィー①(レジスト塗布・露光・現像、レーリーの式、感度曲線)
11.リソグラフィー②(ウエットエッチ、pH-ポテンシャル曲線)
12.リソグラフィー③(ドライエッチング、プラズマ、RIE、レジスト除去)
13.配線技術(多層配線、ビア技術、平坦化、マイグレーション)
14.保護膜形成(CMP技術、透湿性、low-k材料、ソフトエラー)
15.実装技術(Pbフリーはんだ、ワイヤーボンディング)
16.パッシベーション(セラミック、モールド)
17.プリント基板(dk-df材料、ソルダーレジスト)
18.真空装置(真空の物理、真空ポンプ、コンダクタンス、真空計)
19.信頼性評価(活性化エネルギー、バーンイン、絶縁破壊)
20.クリーンルーム管理(浮遊微粒子、気流制御、ベイ方式、局所化)
21.プロセス計測/検査機器 (欠陥検査、重ね合わせ、プローブ顕微鏡、X線CT)
22.プロセスシミュレーション(コーティング、気流、応力集中、電流分布など)
23.質疑応答(日頃のトラブル・研究開発相談にも応じます)
24.参考資料
・塗膜トラブルQ&A事例集(トラブルの最短解決ノウハウ)
・表面エネルギーによる濡れ・付着性解析(測定方法)