FT-IRを使用した異物分析【LIVE配信】
~異物発生から問題解決まで~

※オンライン会議アプリzoomを使ったWEBセミナーです。ご自宅や職場のノートPCで受講できます。

セミナー概要
略称
異物分析【WEBセミナー】
セミナーNo.
211264
開催日時
2021年12月14日(火) 13:00~17:00
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
講師
あなりす 代表・工学博士 岡田 きよみ 氏
<略歴>
1984-2005  王子ホールディングス株式会社
<神埼製紙合併→新王子製紙合併→王子ホールディング> 
(主に、フィルム製品の開発および分析業務担当、上級研究員)
2006-2016  株式会社 パーキンエルマージャパン (分光分析関係シニアスペシャリスト)
2016-2019  京都大学 工学研究科 (セルロースナノファイバー関係 特定研究員)
2018-  あなりす(分析コンサルタント、受託分析会社)
価格
非会員:  49,500円 (本体価格:45,000円)
会員:  44,000円 (本体価格:40,000円)
学生:  49,500円 (本体価格:45,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円(税込)から
・1名で申込の場合、44,000円(税込)へ割引になります。
・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円(2人目無料)です。
・3名以降は一人当たり定価の半額となります。
 <※2名以上でお申込の場合は1名につき24,750円(税込)>
※多人数でお申込みを検討されている際には、ご相談ください。
 パッケージ料金も準備いたします。
■ 会員登録とは? ⇒ よくある質問
備考
資料付(PDF)

【LIVE配信セミナーとは?】
・本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
・「ミーティング用Zoomクライアント」をダウンロードするか、ZOOM を
  ダウンロードせず、Web ブラウザから参加するかの2種類がございます。
  ZOOM WEBセミナーのはじめかたをご覧ください。

・お申込み後、受理のご連絡メールをさせていただきます。
 一部メールが通常セミナー形式(受講券、請求書、会場の地図)になっておりますが
 LIVE配信のみのセミナーです。
・お申込み後、接続テスト用のURL(https://zoom.us/test)から
「ミーティングテストに参加」を押していただき動作確認をお願いします。
・後日、別途視聴用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
・セミナー開催日時の10分前に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
・セミナー資料は郵送にて前日までには、お送りいたします。
 ご自宅への送付を希望の方はコメント欄にご住所などをご記入ください。
・ご質問については、オープンにできるご質問をチャットにご記入ください。
 個別相談(他社に知られたくない)のご質問は後日メールにて講師と直接お願いします。
・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。
・講義の録音、録画などの行為や、テキスト資料、講演データの権利者の許可なく
 複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。
講座の内容
習得できる知識
・異物発生から問題解決までの流れ
・FT-IRできれいなスペクトルを得るコツ
・FT-IRを使用さいた異物解析方法
・問題解決における関連部署間のコミュケーションの大切さ
・異物トラブル時の各部署の視点
趣旨
 異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへ の対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、目に見える数百µm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。FT-IRを異物分析で活用すること、問題解決や解析において関係者間の情報が重要であることに焦点をあてたセミナーです。
 異物分析で最も使用頻度の高い装置であるFT-IRに焦点を当てて、FT-IRの基礎的な学習をし、実用性の高い本体のATR法を用いた測定方法中心にきれいなスペクトルを得るコツをお話します。さらに、異物分析で実際にFT-IRが使用できるように目的にあわせたスペクトル解析の解説を行います。
 なるべく多くの事例を用いて、問題解決までの一連の操作がご理解いただけるよう工夫しています。また、問題解決においては関係間のコミュニケーションがいかに大切さを解説していきます。
プログラム

1.はじめに
 1-1.本セミナーのポイント
 1-2.大切な分析の視点
 1-3.分析の目的

2.異物の概要
 2-1.異物とは何か
 2-2.異物の種類

3.異物の分析方法
 3-1.異物分析で大切なこと
 3-2.異物分析の手順
 3-3.製造工程でわかること
 3-4.観察でわかること
 3-5.異物のサンプリング方法
 3-6.現場でのサンプリング失敗例
 3-7.異物の情報収集
 3-8.分析装置を使わないでできる分析
 3-9.問題解決に向けてのアプローチ

4.FT-IRを使用した異物分析
 4-1.異物分析の中のFT-IR
 4-2.FT-IRの概要
  a.FT-IRでどんな情報が得られるのか
  b.FT-IR測定での約束事
 4-3.異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
 4-4.異物の大きさと空間分解能
 4-4.測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
 4-5.FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
 4-6.スペクトルの解析
  a.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
  b.データベースをうまく使う
  c.問題解決のための解析とは何か

5.FT-IR以外の分析装置
 5-1.SEM-EDS
 5-2.蛍光X線
 5-3.GC、GC-MSおよびLC

6.異物分析の事例
 6-1.分散不良による異物分析
 6-2.食品中の異物分析
 6-3.劣化に起因した異物分析
 6-4.歩留まり向上のための異物分析
 6-5.原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
 6-6.長期データ蓄積によって解決した異物分析

7.よくある質問
 7-1.サンプリングに関すること
 7-2.スペクトルに関すること
 7-3.その他

8.まとめ
 

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