AEC-Q100と比較して、車載用半導体の信頼性認定規格（IEC 60749-43）を紹介し、わかりやすく解説します。

日本初、世界標準
「車載・一般用途半導体部品認定ガイドライン」と信頼性確保への応用

～ 半導体のパラダイムシフトに沿った品質向上へのアプローチ ～

セミナー概要

略称

車載用半導体ガイドライン

セミナーNo.

190129  

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開催日時

2019年01月25日（金）10:30～16:30

主催

（株）R＆D支援センター

問い合わせ

Tel：03-5857-4811　E-mail：info@rdsc.co.jp

開催場所

商工情報センター（カメリアプラザ）　9F 第2研修室

講師

一般社団法人　ビジネス機械・情報システム産業協会（JBMIA）標準部 伊賀　洋一氏

【略歴等】
１９７５年４月ＮＥＣ日本電気入社、半導体集積回路事業部生産技術部配属その後民生製品生産技術製品担当、九州日本電気、米国ＮＥＣローズビル工場、米国ＮＥＣサンタクララ、製品開発、ＰＫＧ・テスト開発、信頼性品質・技術等に従事。社外では２００４年度よりＳＥＭＩＴＲＣ委員会委員長、ＪＥＩＴＡ半導体部会信頼性技術小委員会サブコミティ・認定ＷＧリーダー、ＩＳＯ/ＴＣ２４７国際コンビーナ、ＩＳＯ/ＴＣ２９２国際プロジェクトリーダ、ＩＥＣ/ＴＣ４７国際プロジェクトリーダ国内審議委員会委員長及び事務局に従事。２０１４年３月ルネサスエレクトロニクス（ＮＥＣ、日立、三菱の３社統合）定年退職。２０１４年４月から３年間日本規格協会に勤務、２０１７年より日本規格協会認定登録のＲＳＥ規格開発エキスパートで国際標準化専門家として国内標準化団体に指導委員、コンサルタントの活動を行っている。（東芝、ＪＥＩＴＡ、日本東洋医学サミット会議、ビジネス機械・情報システム産業協会等。）

価格

非会員： 49,980円（税込）
会員： 47,250円（税込）
学生： 10,800円（税込）

価格関連備考

■ 会員（案内）登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円（税込）から
　・1名で申込の場合、47,250円（税込）へ割引になります。
　・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円（2人目無
料）です。
■ 会員登録とは？　⇒　よくある質問
■ 学生価格は、教職員や研究員、企業に在籍されている学生には適用されません。
また、当日学生証をご持参ください。

定員

30名　※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。

備考

昼食・資料付き

講座の内容

受講対象・レベル

電子デバイス・半導体部品の顧客（全産業：産業機器、自動車、デジタルコンシューマ、マルチマーケット分野等）

必要な予備知識

電子デバイスまたは半導体部品の信頼性保証体系とその技術

習得できる知識

電子デバイスまたは半導体部品の信頼性品質技術、認定規格とその試験方法

趣旨

　電子デバイスまたは半導体部品の品質向上技術とそのポイントとして、お客様が製品に求める“品質保証”はお客様の製品応用技術の高度化に伴い、またこれに応えるための、製造技術の進化に伴って、時代と共に質的な変化をするものです。この“品質保証”の継続的な向上を進めるために、時代の進展とともに、新たに出現する品質向上に関わるパラダイムシフトを着実に捉えた対応が必要です。製造プロセスが微細化し、これに伴って、チップに搭載される機能素子が大幅に増加すると、この電子デバイス製品の品質を向上させるために、“品質向上のための仕組み”パラダイムシフト“が重要となります。
　これらについて具体的に具現化した事例として、日本発、世界標準：半導体部品認定ガイドラインの紹介として、『品質・信頼性を確保する新しい信頼性認定規格（IEC 60749-43）の紹介：（半導体集積回路信頼性認定ガイドライン（EDR-4708B））』があります。これらについても応用編としてわかり易く解説いたします。

プログラム

第一部　基礎編　電子デバイスの品質・信頼性と電子デバイスの品質水準事例

＜電子デバイスの品質・信頼性＞
１．品質保証システム
　1. 1 品質システム
　1. 2 品質保証契約／協定
　1. 3 製品開発における品質確保
　1. 4 変更管理
　1. 5 標準類の体系と管理
　1. 6 購入部品材料および購入製品の管理
　1. 7 生産会社との品質保証体制およびサブコン管理
　1. 8 製品の識別およびトレ－サビリティ
　1. 9 製造品質保証システム
　1. 10 選別・検査品質保証システム
　1. 11 設備、計測器の管理
　1. 12 不適合品の管理
　1. 13 是正処置・予防活動
　1. 14 流通品質保証システム
　1. 15 工程情報管理およびお客様クレ－ム対応システム
　1. 16 品質記録
　1. 17 統計的手法
　1. 18 環境管理への取り組み

２． 電子デバイスの信頼性
　2. 1 信頼性の考え方
　2. 2 信頼性試験
　2. 3 故障率の予測方法

３． 故障モ－ドとメカニズム
　3. 1 概要
　3. 2 主な故障モ－ドとメカニズム
　3. 3 使用環境における障害

４． 故障解析
　4. 1 故障解析について
　4. 2 主な解析手法
　4. 3 解析のための加工技術
　4. 4 故障解析装置一覧

５．設計容易化および信頼性解析手法
　5. 1 概要
　5. 2 品質機能展開
　5. 3 パラメ－タ設計
　5. 4 テスト容易化設計
　5. 5 FMEA

６． 電子デバイスのご使用にあたって
　6. 1 はじめに
　6. 2 セット設計上の注意事項
　6. 3 包装、保管、運搬、取り扱い上の注意事項
　6. 4 ESDに対する注意事項
　6. 5 ラッチアップに対する注意事項
　6. 6 測定上の注意事項
　6. 7 デバイス実装上の注意事項

＜電子デバイスの品質水準事例＞
１．まえがき
２．品質水準と用途
　２.１　標準水準
　２.２　特別水準
　２.３　特定水準
３．信頼性の基本的概念
４．品質保証プログラム
５．むすび

第二部　応用編　電子デバイスの品質向上技術とそのポイントの事例
（日本発、IEC 60749-43；ＪＥＩＴＡEDR-4708Bの紹介とビジネスへのインパクト検証）

１．ビジネスへのインパクト
２．組織
３．体制
４．活動の背景
５．認定ガイドライン概要
６．最新活動状況
７．ガイドラインのメリット
８．認定ＷＧからの期待とお願い

【質疑応答・名刺交換】


 

キーワード

EDR-4708B,IEC 60749-43, AEC-Q100,半導体,信頼性