★レジストの基礎から、レジスト・EUVレジスト微細加工用材料のトラブル対策について課題をふまえて解説します!

レジスト/EUVレジスト・微細加工用材料の基礎とトラブル対策【LIVE配信】

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セミナー概要
略称
レジスト・微細加工【WEBセミナー】
セミナーNo.
開催日時
2024年05月30日(木) 10:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
講師
大阪大学 産業科学研究所 招聘教授 工学博士 遠藤 政孝 氏

<専門>
 半導体リソグラフィ、レジスト、微細加工用材料、高分子化学

<略歴>
 1983年松下電器産業株式会社入社。以来同社半導体研究センター、パナソニック株式会社セミコンダクター社プロセス開発センターにて、半導体リソグラフィ、レジスト、微細加工用材料の開発に従事。
 2009年から大阪大学産業科学研究所にて、レジスト、EUVレジストの研究開発に従事。
価格
非会員:  55,000円 (本体価格:50,000円)
会員:  49,500円 (本体価格:45,000円)
学生:  55,000円 (本体価格:50,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で55,000円(税込)から
 ・1名で申込の場合、49,500円(税込)へ割引になります。
 ・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計55,000円(2人目無料)です。
会員登録とは? ⇒ よくある質問

※上記金額はライブ配信、アーカイブ配信いずれかの受講料です。ライブ配信、アーカイブ配信両方視聴される場合は、会員価格で1名につき55,000円(税込)、2名同時申込で66,000円(税込)になります。
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
・本セミナーは「Zoom」を使ったWEB配信セミナーです。

・セミナー資料は郵送します。職場以外での受け取りを希望される場合はご住所をお知らせ下さい。
セミナー資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。


【Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順】

1.Zoomを使用されたことがない方は、こちらからミーティング用Zoomクライアントをダウンロードして下さい。ダウンロードできない方はブラウザ版でも受講可能です。

2.セミナー前日までに必ず動作確認をお願いします。Zoom WEBセミナーのはじめかたについてはこちらをご覧下さい。セミナー開始直前のトラブルについては対応いたしかねますのでご了承下さい。

3.開催日の数日前にWEBセミナーへの招待メールをお送りいたします。当日のセミナー開始10分前までに招待メールに記載されている視聴用URLよりWEB配信セミナーにご参加下さい。

【アーカイブ配信:12/12~12/23】の視聴を希望される方は、こちらからお申し込み下さい。
講座の内容
習得できる知識
・レジスト/EUVレジスト・微細加工用材料の基礎
・リソグラフィの基礎
・レジスト/EUVレジスト・微細加工用材料のトラブル対策
・レジスト/EUVレジスト・微細加工用材料の最新技術・ビジネス動向
趣旨
メモリー、マイクロプロセッサ等のデバイスの高集積化の要求は、携帯端末、情報機器等の高性能化に伴い、益々大きくなっている。リソグラフィは現在先端の量産で用いられているArF液浸、ダブル/マルチパターニングに加えて、待ち望まれていたEUVが用いられている。レジスト・微細加工用材料はこのようなリソグラフィの変革に対応して進展し続けている。
 本講演では、リソグラフィの基礎を解説した後、デバイスの微細化を支えるレジストの基礎をEUVレジスト(化学増幅型EUVレジスト、EUVメタルレジスト)の詳細を含めて述べる。レジスト・微細加工用材料のトラブル対策をその要求特性、課題をふまえて解説する。EUVレジストの課題と対策についても述べる。最後に現在の3nmロジックノード以降のロードマップを解説し、今後のレジスト・微細加工用材料の技術展望、市場動向についてまとめる。
プログラム

1.リソグラフィの基礎
 1-1.露光
 1-2.照明方法
  (1)輪帯照明
 1-3.マスク
  (1)位相シフトマスク
  (2)光近接効果補正(OPC)
  (3)マスクエラーファクター(MEF)

2.レジストの基礎
 2-1.溶解阻害型レジスト
  (1)g線レジスト
  (2)i線レジスト
  (3)レジスト組成材料の詳細とキーポイント
 2-2.化学増幅型レジスト
  (1)KrFレジスト
  (2)ArFレジスト
  (3)レジスト組成材料の詳細とキーポイント
 2-3.EUVレジスト
  (1)化学増幅型EUVレジスト
  (2)EUVメタルレジスト

3.レジスト・微細加工用材料のトラブル対策
 3-1.レジストパターン形成不良への対応
  (1)パターン倒れ
  (2)パターン密着性不良
  (3)パターン形状不良
  (4)チップ内のパターン均一性不良
 3-2.化学増幅型レジストのトラブル対策
  (1)レジスト材料の安定性
  (2)パターン形成時の基板からの影響
  (3)パターン形成時の大気からの影響
 3-3.ArF液浸レジストのトラブル対策
 3-4.ダブルパターニング、マルチパターニングのトラブル対策
  (1)リソーエッチ(LE)プロセス用材料
  (2)セルフアラインド(SA)プロセス用材料
 3-5.EUVレジストの課題と対策
  (1)感度/解像度/ラフネスのトレードオフ
  (2)ランダム欠陥(Stochastic Effects)
 3-6.自己組織化(DSA)リソグラフィのトラブル対策
  (1)グラフォエピタキシー用材料
  (2)ケミカルエピタキシー用材料
 3-7.ナノインプリントリソグラフィのトラブル対策

4.最新のロードマップとレジスト・微細加工用材料の技術展望、市場動向

キーワード
レジスト、EUV、微細、加工、パターン、形成、液浸、リソグラフィ、トラブル、欠陥、対策
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