非会員：
49,500円
（本体価格：45,000円）
会員：
46,200円
（本体価格：42,000円）
学生：
49,500円
（本体価格：45,000円）
X線光電子分光法（X-ray Photoelectrons Spectroscopy:XPS）は、材料表面分析手法の一つである。材料表面数nmの定性、定量分析だけでなく、化学結合状状態分析が可能で、材料表面の特性を評価するのに有用な手法である。また、検出器と試料の検出角度を変化させる検出角度分解法による非破壊の深さ方向分析や、Ar（アルゴン）スパッタリングを併用しながら、材料の深さ方向の分析も可能である。
本セミナーでは、まず、XPSの原理およびスペクトルから得られる基本的な情報、得られたスペクトルの解析法を紹介する。次に、より正確な解析を行うためのチャージアップ対策などの測定条件やサンプルプレパレーションの工夫に触れる。 次に、実際的な測定応用例として、二次電池材料やバイオポリマーなど、機能性材料について、実際に評価した事例、また、XPSを最大限にまで活用したチャレンジング解析事例について解説する。また、装置のメンテナンスについても触れ、XPS装置の初歩から応用までの全体的な内容を解説する。
１．X線光電子分光法（XPS）
1-1．表面分析とは
1-2．XPSの原理
1-3．定性、定量、化学状態分析
1-4．測定条件について
２．XPSを用いた材料評価
2-1．粉末、薄膜など、材料の形態と試料調整、測定法
2-2．材料別の（金属、無機材料、有機材料、高分子等）、試料調整、測定法
2-3.より正確な情報を得るために
３．実際の測定例
3-1 機能性材料表面への応用
3-2 チャレンジングな解析事例
４．XPS装置の管理
4-1 装置のメンテナンス
4-2 メンテナンス体制
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