FT-IRの基礎的な知識を得て、効率的で的確な異物分析を
異物の収集方法、確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、、、
FT-IRのメリット／デメリットとちょっとしたコツ
どんな情報が得られるのか、測定での約束事、やってはいけないこと、
サンプリング、前処理、スペクトルの処理・解析、、、、、、
「実際にできること」「装置を上手く使うこと」を意識して解説します
１．はじめに
1.1 本セミナーのポイント
1.2 分析の目的
２．異物の概要
2.1 異物とは何か
2.2 異物の種類
３．異物の分析方法
3.1 異物分析で大切なこと
3.2 異物分析の手順
3.3 製造工程でわかること
3.4 観察でわかること
3.5 異物のサンプリング方法
3.6 異物の情報収集
3.7 コミュニケーションの大切さ
3.8 問題解決に向けてのアプローチ
3.9 分析装置を使わないでできる分析
４．FT-IRを使用した異物分析
4.1 異物分析の中のFT-IR
4.2 FT-IRの概要
4.3 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
4.4 異物の大きさと空間分解能（微小異物への対応）
4.5 きれいなスペクトルを得るコツ
4.6 FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
4.7 スペクトルの解析
a.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
b.データベースをうまく使う
c.問題解決のための解析とは何か
５．FT-IR以外の分析装置
5.1 SEM-EDS
5.2 蛍光X線
5.3 GC、GC-MSおよびLC
６．異物分析の実施例
6.1 材料の分散不良による異物分析
6.2 食品中の異物分析
6.3 歩留まり向上のための異物分析
6.4 原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
6.5 長期データ蓄積によって解決した異物分析
6.6 劣化に起因した異物分析
７．まとめ
８．質疑応答