低抵抗~高抵抗に中間領域まで、各種材料特性、形状に合わせた測定のコツ、データの解釈の仕方とは?
粉体、フィルム、ウエハ、金属、薄膜、高温下・低温下での低抵抗測定法やデータの悩みを解決。

導電性材料・絶縁性材料の抵抗率測定の勘どころと、明日から使える測定ノウハウ

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セミナー概要
略称
導電性材料
セミナーNo.
st150121
開催日時
2015年01月29日(木) 12:30~16:30
主催
サイエンス&テクノロジー(株)
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
きゅりあん 4F 第1特別講習室
価格
非会員:  44,000円 (本体価格:40,000円)
会員:  41,800円 (本体価格:38,000円)
学生:  44,000円 (本体価格:40,000円)
価格関連備考
会員受講料 41,040円
【2名同時申込みで1名分無料(1名あたり定価半額の21,600円)】
 ※2名様とも会員登録をしていただいた場合に限ります。
 ※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
 ※3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で追加受講できます。
 ※受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
 ※他の割引は併用できません
備考
※資料付
講座の内容
趣旨
 金属の電気抵抗は試料の長さに比例し、その断面積に反比例する。その時の比例定数が抵抗率と定義されている。従来はこの定義に則って、柱状の試料を作りその断面に対して一定電流を流し、別途作成した電圧電極間の電位勾配を測り、オームの法則から抵抗値を求めた。更に、上記の定義に基き抵抗率を算出していた。(4端子法)
そもそも抵抗率の定義が導かれた時代には、試料(=材料)は金属が中心で均一組成と考えられていた。しかし、現在では材料技術は飛躍的に進歩し、金属、プラスチック、セラミックスのみならず、それらを複合した材料(バルク体)や薄膜材料が日進月歩で開発されている。特に、電子材料の分野では、小型電子機器やリチウムイオン電池の発展に伴い、急速な進歩を遂げている。まず、研究開発者にとっては抵抗率を正しく測る事が重要であり、更にその次に各種材料の特性に合わせた測定方法やデータの解釈が必要となってきた。
 本セミナーでは、基本的な測定方法について解説し、材料に合わせた応用例についても説明する。
プログラム
1.抵抗と抵抗率

2.低抵抗領域の測定

3.テスターで測ると何故不安定なのか?

4.テスターでの測定はダメなのか?

5.4端子法と2端子法

6.接触抵抗とは?

7.4探針法とは?

8.4探針法と4端子法の違い

9.シリコンウエハの抵抗率測定

10.表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け

11.傷が付き易い試料の測り方

12.低抵抗薄膜の抵抗率測定

13.金属の抵抗率測定

14.高抵抗領域の測定

15.2重リング法とは?

16.表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?

17.JIS K6911とは?

18.ガード電極は必要か?

19.温度や湿度で抵抗値が変わるのか?

20.印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?

21.高抵抗薄膜の測定

22.中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?

23.粉体の抵抗はどうやって測るか?

24.フィルムの厚み方向の測定

25.高温や低温下での低抵抗測定は?


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