XPSの原理、試料作製と測定条件の設定方法、データ解析を適切におこなうためのノウハウを詳解!

XPS(ESCA)の基礎と実践応用テクニック【LIVE配信】
※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
セミナー修了後、受講者のみご覧いただける期間限定のアーカイブ配信を予定しております。

※受付を終了しました。最新のセミナーはこちら

セミナー概要
略称
XPS【WEBセミナー】
セミナーNo.
201257
開催日時
2020年12月24日(木) 13:00~16:00
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
価格
非会員:  49,500円 (本体価格:45,000円)
会員:  46,200円 (本体価格:42,000円)
学生:  49,500円 (本体価格:45,000円)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円(税込)から
 ★1名で申込の場合、46,200円(税込)へ割引になります。
 ★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円(2人目無料)です。
■ 会員登録とは? ⇒ よくある質問
定員
30名 ※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
資料付【PDF配布】

【LIVE配信セミナーとは?】
・本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
・「ミーティング用Zoomクライアント」をダウンロードするか、ZOOM を
  ダウンロードせず、Web ブラウザから参加するかの2種類がございます。
  ZOOM WEBセミナーのはじめかたをご覧ください。

・お申込み後、受理のご連絡メールをさせていただきます。
 一部メールが通常セミナー形式(受講券、請求書、会場の地図)になっておりますが
 LIVE配信のみのセミナーです。
・お申込み後、接続テスト用のURL(https://zoom.us/test)から
「ミーティングテストに参加」を押していただき動作確認をお願いします。
・後日、別途視聴用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
・セミナー開催日時の10分前に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
・セミナー資料はPDFを前日までには、お送りいたします。
・ご質問については、オープンにできるご質問をチャットにご記入ください。
 個別相談(他社に知られたくない)のご質問は後日メールにて講師と直接お願いします。
・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。
・講義の録音、録画などの行為や、テキスト資料、講演データの権利者の許可なく
 複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。
講座の内容
受講対象・レベル
分析業務に携って1~3年の若手技術者や新人の方。
必要な予備知識
特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。
習得できる知識
XPS(ESCA)分析の基礎、原理、特徴が理解できる。分析の進め方、データ解釈の注意点と最新の分析技術や問題解決事例が習得できる。
趣旨
固体表面は、物質の内部と異なる化学組成や状態をもっていて、他の材料や環境との界面となる。このため、剥離や変色などの問題はもちろんのこと、電池材料・触媒・半導体・各種材料やデバイスで表面・界面を制御し理解することが商品開発のキーポイントとなる。さまざまな表面分析の中でも最も使用頻度の高い手法はXPS(ESCA)である。製造、品質保証や研究開発の現場においてXPSによる表面分析は重要である。ただし、表面数ナノメートルの分析をおこなうXPSでは、正しい測定手法の理解と、適切な分析運用が必須となる。本講座ではXPSの原理、試料作製と測定条件の設定方法、データ解析を適切におこなうためのノウハウを紹介し、応用例を用いてわかりやすく解説する。
プログラム

1.表面分析とは
 1-1.表面の重要性
 1-2.各種表面分析手法
 1-3.他の表面分析手法(AES、TOF-SIMS)との比較

2.XPS(ESCA)の原理と特徴
 2-1.装置の構成
 2-2.XPSの原理
 2-3.XPSスペクトルと化学シフト
 2-4.XPSが表面分析となる理由
 2-5.深さ方向分析
 2-6.イメージング分析
 2-7.その他の分析モード

3.XPSの試料作成と測定条件
 3-1.測定できる試料
 3-2.サンプリングの注意点
 3-3.粉末試料
 3-4.絶縁試料
 3-5.電池材料、および導電物と絶縁物の混在試料

4.測定
 4-1.ワイドスペクトル(サーベイスペクトル)
 4-2.ナロースペクトル
 4-3.微量成分の検出

5.データ処理
 5-1.ピークシフト
 5-2.定量計算
 5-3.定量範囲の決定
 5-4.化学状態の推定(カーブフィット)
 5-5.その他のデータ処理

6.最新の測定技術
 6-1.マイクロXPS分析
 6-2.ガスクラスターイオン銃による有機試料の深さ方向分析
 6-3.ガスクラスターイオン銃による無機試料の表面クリーニング
 6-4.高エネルギーXPS(HAXPES)
 6-5.UPS(紫外光電子分光)とLEIPS(逆光電子分光)
 6-6.その他のXPS測定技術

7.まとめ、質疑
キーワード
XPS,分析,測定技術,表面分析,研修,講習,セミナー
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