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『帯電現象（チャージアップ現象）』や『コンタミネーション』の原因とその回避法とは？

走査電子顕微鏡（SEM）の基礎と最適な観察条件の設定方法および像障害の回避法【LIVE配信】
～基礎／低加速電圧観察法／低真空SEM観察／断面試料作製法／像障害の回避法～

【アーカイブ配信：12/1～12/10（何度でも受講可能）】の視聴を希望される方は、こちらからお申し込み下さい。

※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。

セミナー概要
略称
SEM【WEBセミナー】
セミナーNo.
251142
開催日時
2025年11月27日（木） 13:00～16:00
主催
（株）Ｒ＆Ｄ支援センター
問い合わせ
Tel：03-5857-4811　E-mail：info@rdsc.co.jp　問い合わせフォーム
開催場所
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。　
講師
（株）日立ハイテク　CTソリューション開発部　シニア　多持 隆一郎　氏
　《ご専門》走査電子顕微鏡の応用技術開発
　《ご経歴》
　　2001年4月～　（公社）日本顕微鏡学会SEM分科会常任幹事
　　2005年4月～　（公社）日本顕微鏡学会認定試験委員会委員（2018年～23年 副委員長）
　　2013年4月～2019年3月　NBCI計測・評価分科会　副主査
　　　　　　　　　　　　　　　　ナノテクノロジー委員会　副主査
　　2015年4月～　（公社）日本表面真空学会関東支部　副支部長
　　2017年4月～2019年3月　NEDO国プロ参画「複合計測システムの開発」
　　2023年6月～2025年6月　公益社団法人日本顕微鏡学会　常務理事
　　2025年6月～　公益社団法人日本顕微鏡学会　監事
価格
非会員：  49,500円 （本体価格：45,000円）
会員：  46,200円 （本体価格：42,000円）
学生：  49,500円 （本体価格：45,000円）
価格関連備考
会員（案内）登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円（税込）から
　・1名で申込の場合、46,200円（税込）へ割引になります。
　・2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円（2人目無料）です。
会員登録とは？　⇒　よくある質問
定員
30名　※現在、お申込み可能です。満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考
資料付【PDFにて配布いたします】

【Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順】
１）Zoomを使用されたことがない方は、こちらからミーティング用Zoomクライアントを
　　ダウンロードしてください。ダウンロードできない方はブラウザ版でも受講可能です。
２）セミナー前日までに必ず動作確認をお願いします。Zoom WEBセミナーのはじめかたに
　　ついてはこちらをご覧ください。
３）開催日直前にWEBセミナーへの招待メールをお送りいたします。当日のセミナー開始
　　10分前までに招待メールに記載されている視聴用URLよりWEB配信セミナーにご参加
　　ください。

・セミナー資料は開催前日までにお送りいたします。
　無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
・【アーカイブ配信：12/1～12/10（何度でも受講可能）】の視聴を希望される方は、こちらからお申し込み下さい。
講座の内容
受講対象・レベル
SEMのユーザー全般。SEM初心者から中級者向けの講座とする。
習得できる知識
SEMの原理、構造に加え、観察条件の設定方法、試料の特性に応じた前処理方法および観察中に遭遇する、帯電現象（チャージアップ現象）、コンタミネーションによる像の劣化の回避法について習得する。
趣旨
SEMは1965年に製品化されてから性能・機能および操作性が飛躍的に向上した。また、近年では自動機能も充実しており、SEMの初心者でもストレスなく操作ができることから、多くのユーザーが研究開発や品質管理のツールとして利用している。しかし、多くのユーザーは、観察目的に応じて観察条件を変更する作業を実施していないのが現状である。今回は、最終的にSEMを用いた解析が正しく実施できるために、試料の特性や観察目的に応じた、観察条件の設定方法や試料前処理について解説する。
プログラム

　１．走査電子顕微鏡の基礎
　　1-1 SEMの歴史
　　1-2 SEMの原理と構成
　　1-3 SEMの基本操作
　　1-4 SEM観察条件の設定
　２．低加速電圧観察法
　　2-1 低加速電圧観察のメリット、デメリット
　　2-2 低加速電圧観察の高分解能化
　　2-3 低加速電圧による解析例の紹介
　３．低真空SEM観察
　　3-1 低真空SEMとは
　　3-2 低真空SEM観察のメリットと観察例
　　3-3 クールステージによる食品の観察 
　４．断面試料作製法
　　4-1 簡便な断面試料作製法の紹介
　　4-2 BIB（Brode Ion Beam）を用いた断面試料作製
　　4-3 BIB加工試料のSEM観察例の紹介
　５．像障害の回避法
　　5-1 帯電現象（チャージアップ現象）の原因とその回避法
　　5-2 コンタミネーションの原因とその回避法
　６．今後の展望
   
キーワード：走査電子顕微鏡、低加速電圧観察法、高輝度電子銃、低収差対物レンズ、BIB（Brode Ion Beam）法

キーワード
走査電子,顕微鏡,SEM,BIB,観察,画像,講演,Web,LIVE,セミナー
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