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抵抗率の正しい測定方法【実践セミナー】

-機器・手法の理解、測定のポイント、データの解釈-

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セミナー概要

略称
抵抗率の正しい測定
セミナーNo.
stb150601  
開催日時
2015年06月04日(木)13:00~16:45
主催
S&T出版(株)
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
連合会館(旧:総評会館) 5F 502会議室
価格
非会員: 43,200円(税込)
会員: 41,000円(税込)
学校関係者: 43,200円(税込)
価格関連備考
43,200円(税込) 会員価格 41,000円 ※資料代を含む

2名様以上でお申込の場合(お1人様:32,400円 会員価格 30,200円)
同一会社・法人からの同時申込に限り、上記価格を適用します。

講座の内容

趣旨
 金属の電気抵抗は試料の長さに比例し、その断面積に反比例する。その時の比例定数が抵抗率と定義されている。従来はこの定義に則って、柱状の試料を作りその断面に対して一定電流を流し、別途作成した電圧電極間の電位勾配を測り、オームの法則から抵抗値を求めた。更に、上記の定義に基き抵抗率を算出していた。(4端子法)
 そもそも抵抗率の定義が導かれた時代には、試料(=材料)は金属が中心で均一組成と考えられていた。しかし、現在では材料技術は飛躍的に進歩し、金属、プラスチック、セラミックスのみならず、それらを複合した材料(バルク体)や薄膜材料が日々開発されている。特に、電子材料の分野では、小型電子機器や各種電池の発展に伴い、急速な進歩を遂げている。
 まず、研究開発者にとっては抵抗率を正しく測る事が重要であり、更にその次に各種材料の特性に合わせた測定方法やデータの解釈が必要となってきた。
 本セミナーでは、基本的な測定方法について解説し、材料に合わせた応用例についても説明する。
プログラム
1. 抵抗と抵抗率
2. 低抵抗領域の測定
3. テスターで測ると何故不安定なのか?
4. テスターでの測定はダメなのか?
5. 4端子法と2端子法
6. 接触抵抗とは?
7. 4探針法とは?
8. 4探針法と4端子法の違い
9. シリコンウエハの抵抗率測定
10. 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
11. 傷が付き易い試料の測り方
12. 低抵抗薄膜の抵抗率測定
13. 高抵抗領域の測定
14. 2重リング法とは?
15. 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
16. JIS K6911とは?
17. ガード電極は必要か?
18. 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
19. 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
20. 高抵抗薄膜の測定
21. 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
22. 粉体の抵抗はどうやって測るか?
23. フィルムの厚み方向の測定
24. 高温や低温下での低抵抗測定は?

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