こちらは12/19(金)実施WEBセミナーのアーカイブ(録画)配信です。期間中何度でも視聴できます
1. はじめに
1-1 X線光電子分光法(XPS)の原理
1-2 XPSから得られる情報
1-3 他の表面分析手法との比較
2. 放射光を用いた最近の光電子分光分析例の紹介
2-1 硬X線光電子分光法を用いた最近の分析例
2-2 角度分解光電子分光測定(ARPES)を用いた最近の分析例
3. 試料作成と測定時の留意事項
3-1 試料作成時の注意事項(表面分析において、試料についてやってはいけないこと)
3-2 試料が帯電する理由と対処
4. 解析の流れと留意事項
(解析の流れは、主にSiO2/Si構造のXPS結果を用いて説明いたします)
4-1 背景信号
4-2 ピーク分離
4-3 損失スペクトルを用いたバンドギャップの測定
4-4 深さ方向分析の原理と例
4-5 定量分析
5. まとめ
5-1 光電子スペクトル解析時の注意事項と対策
5-2 表面分析において、分析試料についてやってはいけないこと
5-3 まとめ