ホーム > セミナー > FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについてのノウハウを解説!

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

~現場実務で役立つ・使える~

セミナー概要

略称
FT-IR
セミナーNo.
170510  
開催日時
2017年05月17日(水)10:30~16:30
主催
(株)R&D支援センター
問い合わせ
Tel:03-5857-4811 E-mail:info@rdsc.co.jp 問い合わせフォーム
開催場所
江東区産業会館 第2会議室
講師
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏
兼 大阪産業大学 情報システム学科 非常勤講師
  大阪市産業創造館 技術・経営相談員
  市立教育研究所 運営委員
  滋賀県 社会教育委員
  知財管理技能士

【専 門】
表面・界面、接着、高分子、ナノ粒子、分析、ハイブリッド材料、等
価格
非会員: 49,980円(税込)
会員: 47,250円(税込)
学校関係者: 10,800円(税込)
価格関連備考
会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,980円(税込)から
 ★1名で申込の場合、47,250円(税込)へ割引になります。
 ★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,980円(2人目無料)です。
学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。

■ 会員登録とは? ⇒ よくある質問
特典
【セミナー受講特典コンサルティング】
 セミナーに受講して名刺交換をさせて頂いた方への特典サービスとして、初回限定で限定特別料金にてコンサルティングをご利用いただけます。技術的な相談はもちろん、戦略相談、オンサイトセミナーなど、依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。
 技術コンサルティングには興味があるが利用したことがないので、どのようなものか良くわからず正式依頼に踏み切れない、決裁を取るために一度ディスカッションしたいという方は、是非この機会に、JRLのコンサルティングを御体験ください。限定特典ではありますが、必ず満足のいただける内容でお応えします。
<依頼条件>
 ・初回1回のみ
 ・セミナー実施日より3カ月以内に依頼が成立
 ・費用:内容によらず定額の限定特別料金
定員
30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください
備考
昼食・資料付き

講座の内容

習得できる知識
・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順
趣旨
赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。
プログラム
第1部 赤外分光法の基礎と装置・アタッチメント
 1.赤外分光法の基本原理と特徴
 2.検出器の特徴と使い分け
  ・TGS、DTGS、MCTの特徴
 3.代表的な測定法の特徴と選択法
  1)透過法
  2)全反射法(ATR法)
  3)拡散反射法
  4)その他(正反射法、光音響分光法、ガスセル等)
  5)測定方法のまとめ
 4.顕微赤外分光法
   4.1 顕微FTIRの基礎
   4.2 顕微ATR法、イメージング、マッピング
 5.ラマン分光法との違い
 6.ATR結晶等、毒劇物を含むものの取扱いと対応法
第2部 赤外測定とスペクトル解釈・同定解析の実際
 1.赤外スペクトルの概要
 2.主な吸収帯
 3.代表的な官能基の帰属
 4.赤外スペクトルの見方、同定解析
  1)赤外スペクトルの構造敏感性と複雑性
  2)赤外スペクトルにおける指紋領域の利用
  3)構造の類似したスペクトルの見分け方
  4)スペクトルマッチングの絞り込み方とその手順・注意点
  5)キーバンドの見方・活用法
 5.特徴的な吸収帯を用いた系統同定のすすめ方
 6.同定のためのピークの帰属のポイントと注意点
 7.定量分析と検量線の使い方
 8.試料間比較(ピーク強度比法、内標準法)
 9.大気成分補正
 10.スペクトルの処理法
  1)ベースライン補正
  2)スムージング
  3)自動処理機能を利用する際の注意点
 11.ベースラインの取り方
 12.ピーク高さとピーク面積
 13.混合物の分析法
  1)前処理法
  2)測定上の留意点
  3)他手法との組み合わせによる対処
 14.混合物解析に向けたスペクトル処理の実際
  1)ピーク分離手法
  2)差スペクトル法
第3部 測定の実際と事例
 1.各種試料の測定・処理テクニックと工夫
  1)フィルム
  2)粉体
  3)バルク
  4)液体
  5)異物・微小物
  6)繊維
  7)汚染・表面付着物
  8)黒色試料
  9)結晶構造等の高次構造変化
 2.状態別の分析テクニック
  1)バルク分析(試料全体の情報を得る)
  2)表面分析
  3)深さ方向分析
  4)温度可変測定
キーワード
赤外,スペクトル,原理,吸収,研修,講習会

関連するセミナー

関連する書籍・DVD

関連する通信講座

関連するタグ