2012年12月12日（水）
10:30～16:30
Tel：03-5857-4811 E-mail：info@rdsc.co.jp
問い合わせフォーム
非会員：
52,360円
（本体価格：47,600円）
会員：
49,500円
（本体価格：45,000円）
学生：
11,000円
（本体価格：10,000円）
・1名につき47,250円（税込、資料付き）
※大学生、教員のご参加は、1名に付き受講料10,500円です。（ただし、企業に在籍されている研究員の方は除きます。）
・2名同時にお申し込みいただいた場合、2人目は無料（2名で49,980円）※ただし、2名とも案内登録をしていただいた場合に限ります。
30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
【講座のポイント】
次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されているＬＥＤは固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンＩＣやＬＳＩの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。 本セミナーではまず、ＬＥＤの信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、ＬＥＤシステムの信頼性設計のポイントを解説します。とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。 続いて、ＬＥＤの熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などのＬＥＤシステムも含めた放熱設計検証ツールとして、またＬＥＤの実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。
【受講対象者・レベル】
ＬＥＤ照明等、ＬＥＤを使用した装置、システムの設計担当者、ＬＥＤを含めた半導体デバイスの信頼性評価に携わる方や、これから取り組まれる方など
１．LEDの信頼性の特徴
1-1 半導体デバイスの信頼性とは何か＜信頼性の２つの側面＞
1-2 故障率のバスタブカーブにみるLED信頼性の特徴
1-3 LEDで想定される故障モードと故障メカニズム
1-4 LEDの信頼性への取組み＜シリコンICやLSIとの基本的な違い＞
２．メーカ、研究機関のデータから
2-1 各社のLED信頼性試験データと照明器具設計者向けツール
2-2 LED寿命予測方法とLM-80テストレポート
2-3 照明器具全体の信頼性設計
2-4 電解コンデンサで支配されるLED駆動回路の寿命予測報告例
2-5 報告データから導き出せるLED寿命の活性化エネルギーの分析と比較
３．LED寿命評価に関する標準化の動き
3-1 ASSIST勧告の動向と現状
3-2 LEDダウンライト試験報告例
3-3 IES規格 LM-80の紹介と分析及び寿命推定法（TM-21)
3-4 LED照明器具の"Energy Star"適合基準
3-5 LED寿命評価に関するIEC,JISの動向
４．偶発故障の故障率
4-1 偶発故障で決まる故障率の推定
4-2 信頼水準と期待故障数の計算
4-3 信頼度評価試験に必要なサンプル数
５．マルチLEDシステムの信頼性設計
5-1 マルチLEDシステムに要求される信頼性
5-2 交通信号灯をモデルとしたシミュレーション
5-3 加速寿命試験による故障率予測とデバイスアワーの壁
６．磨耗故障による故障率
6-1 LED寿命評価のポイント＜なぜ分布データとしての統計的調査が必要か＞
6-2 LED寿命に至る前に生ずる故障率急増の脅威
6-3 現状よりもさらに大幅な寿命改善を必要とする理由
6-4 長寿命LEDの寿命評価の難しさとその打開策
6-5 温度加速試験が成り立つための条件と温度加速試験の失敗例
７．LEDの発熱と熱抵抗評価
7-1 LED発熱の起源＜LEDからの発熱は従来光源と比べてどこが異質か＞
7-2 LED発熱と光出力の低下及びLEDの温度・電流による波長シフト
7-3 蛍光体を有する白色LEDの温度による波長シフト
7-4 LEDに特異的な温度によるVFの挙動
7-5 シリコンとは異なるVFの温度係数(K Factor)とその理論的背景
7-6 接合温度の推定と熱抵抗測定法
7-7 Heating Curveの解析と熱設計検証への応用
7-8 過渡熱抵抗測定によるLED実装不良解析と品質管理への応用
８．まとめ
