※本セミナーはZOOMを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はございません。
1.最近の先進半導体デバイスパッケージ
1-1 Siデバイス性能の向上
1-2 システムレベル性能の向上
2.後工程の高品位化と中間領域技術の進展
3.三次元集積化プロセスの基礎
3-1 TSV再訪 (HBMからBSPDNへ)
3-2 Wafer level Hybrid Bonding (CIS, NAND)
3-3 CoW Hybrid Bonding (異種チップ積層)
3-4 Logic-on-memory積層SoC再訪
(広帯域メモリ, 再配線, マイクロバンプ, マスリフロー積層導入の原点)
3-5 Siインターポーザーの導入から有機インターポーザーへ
3-6 Siブリッジの導入から Chiplet集積へ
(マスクレス露光によるレテイクルサイズ制約からの解放)
3-7 再配線の微細化と多層化(SAP延命とダマシンプロセスの導入)
4.Fan-Out(FO)型パッケージプロセスの基礎
4-1 FOWLPの市場浸透(パワーデバイスのFO化)
4-2 FOプロセス, 封止材料の選択肢拡大
4-3 三次元集積プロセスの選択肢拡大(メモリパッケージのFO化)
4-4 PLP高品位化の課題
5.GlassパッケージとCo-Packaged Optics(CPO)の開発動向
5-1 Glass基板導入の動機
5-2 レーザーによるTGV形成の課題
5-3 Cu埋め込み, 再配線形成の課題
(ガラス基板表面と配線層の密着性向上)
5-4 信頼性の課題
5-5 CPO導入の動機
5-6 ファイバー接続の課題
5-7 GlassパッケージとCPOの親和性
6.市場動向と今後の開発動向