
事例を中心とした混入異物の分析・原因解明技術【大阪講座】
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セミナータイトル
測定に必要な情報収集から前処理、最適な手法の選択、解析方法について、具体的事例を基にわかりやすく解説!
≪1名分料金で2人目無料・個別相談会付き≫
事例を中心とした混入異物の分析・原因解明技術
~ 検出から異物分析、成分同定・原因解明までのフロー ~
セミナー概要
セミナー番号 | 100205 |
申込受付を終了いたしました。 本セミナーに関する各種お問い合わせはこちらから。 | |
会 場 | エル・おおさか 南館 7F 南71 【大阪・天満橋】 |
日 時 | 平成22年2月4日(木)13:00-16:30 |
| 定 員 | 30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。 |
聴講料 | 1名につき49,980円(税込、資料付き) 2名同時にお申込いただいた場合、2人目は無料でご参加いただけます。 ※大学生、教員のご参加は、1名に付き受講料10,500円です。 (ただし、企業に在籍されている研究員の方は除きます。) |
【講座趣旨】
◆各種製品・原材料中に混入する異物、その発生原因と防止策から、発生した場合の分析、原因解明までのフローまで広範な内容をカバーし、問題解決を支援します。
◆異物問題の全てについて、短時間で理解できます。製品検査、品質管理、分析・組成解析等を担当されている技術者の方、ならびに顧客相談窓口、営業の方にも役立つ内容です。
◆異物分析については、単なる技術的説明に止まらず、測定に必要な情報収集から前処理、最適な手法の選択、解析方法について、具体的事例を基にわかりやすく解説します。
◆セミナの最後に異物分析相談会を実施します。 異物混入でお困りのサンプル、写真等を可能な範囲でご用意ください。その場で測定法のご提案、解決へのアプローチについてご相談させて頂きます。
【プログラム】
1.なぜ異物は発生するのか?(被害防止拡大のために)
1-1 異物の定義・種類
1-2 異物発生事例および要因
1-2 異物発生事例および要因
2.異物の検知(見えない異物をどのように捕らえるか?)
2-1 光学顕微鏡、その他検知法
2-2 X線マイクロCT
2-2 X線マイクロCT
3.検知した異物を分析する前に(情報収集)
3-1 異物の分野ごとの特徴
4.異物分析の前処理
4-1 異物の性状確認(簡易識別)
4-2 サンプリング
4-2 サンプリング
5.分析機器の原理・特徴および組み合わせ
5-1 EPMA、顕微IR、XRD、その他代表的手法
6.分析結果から正確な組成情報を得るには?
6-1 原因解明への道程
7.質疑応答「個別相談会」
※ 個別相談会は、セミナー終了後にご希望の方を対象に行います。
※ 受講者の方には、主催より事前に相談シートをお送りします。
※ 1社あたりの相談時間は、受講者数により調整します。
※ 相談される順番は、基本的にセミナー申込み順とします。
※ 受講者の方には、主催より事前に相談シートをお送りします。
※ 1社あたりの相談時間は、受講者数により調整します。
※ 相談される順番は、基本的にセミナー申込み順とします。
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